用于同步加速器的 X 射线分析仪
超越预期
体为同步加速器等大型仪器设计和生产高度专业化的 X 射线分析仪。这些反射镜所在的市场是高度专业化的,用于许多科学分支领域,如生物、化学、物理、电子、环境科学、材料工程和医学。
同步加速器的特殊性在于,在电子加速的作用下,发射主要由 X 射线组成的辐射。这些 X 射线照射要研究的样品,然后被球面晶体的反射镜散射,将射线聚焦在用于记录数据的探测器上。这使得研究人员能够获得材料及其特性的完美表征。这最终促使许多行业取得了长足的进步,包括航空、汽车和医疗等。
同步加速器的特殊性在于,在电子加速的作用下,发射主要由 X 射线组成的辐射。这些 X 射线照射要研究的样品,然后被球面晶体的反射镜散射,将射线聚焦在用于记录数据的探测器上。这使得研究人员能够获得材料及其特性的完美表征。这最终促使许多行业取得了长足的进步,包括航空、汽车和医疗等。
上图为安装在 SOLEIL Synchrotron GALAXIE 光束线上的 MATRIXS 分析仪,每条光束线有 40 台 Si(220) 球面弯晶分析仪(左)和 Von Hamos 光谱仪(带 16 台分析仪)= 8 Si(111) + 8 Si(220),均为 110x30 mm² R=500 mm(右)
体在这一市场上赢得了良好的声誉,这要归功于其产品的高质量、晶体的多样性(以硅或锗为基础),以及包括抛光在内的精加工作业的精细度。可以想象,同步加速器的反射镜必须满足苛刻的规格要求。制造工艺非常复杂和精细。硅锭被切成圆形薄片(0.14 到 0.18mm),然后经弯曲变形加工,以适应反射镜的球形玻璃支架。圆盘抛光的最后阶段需要非常高的精细度,由高素质的团队手工完成。
用于同步加速器的质量分析器
目前有 13 个同步加速器项目正在建设或改造中!我们体通过提供高质量的 X 射线分析仪来发挥其作用。
在 SOLEIL 同步加速器上表现出很高的分辨率
测量由 J.P. Rueff, J.M. Ablett 完成– GALAXIES JJ X-Ray Von Hamos光谱仪(图片由法国 Synchrotron SOLEIL 提供)
带状弯曲 Si(220) 与均匀球面 Si(220) 的“弹性峰值”比较 | 带状弯曲分析仪 250 meV 对分辨率的贡献 |
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带状弯曲 = 绿色 | 均匀球面 = 蓝色 |