用于同步加速器的 X 射线分析仪

超越预期

体为同步加速器等大型仪器设计和生产高度专业化的 X 射线分析仪。这些反射镜所在的市场是高度专业化的,用于许多科学分支领域,如生物、化学、物理、电子、环境科学、材料工程和医学。

同步加速器的特殊性在于,在电子加速的作用下,发射主要由 X 射线组成的辐射。这些 X 射线照射要研究的样品,然后被球面晶体的反射镜散射,将射线聚焦在用于记录数据的探测器上。这使得研究人员能够获得材料及其特性的完美表征。这最终促使许多行业取得了长足的进步,包括航空、汽车和医疗等。
MATRIXS Analyser of SOLEIL Synchrotron GALAXIE Beamline 4 blocks of 10 Si(220) Spherically Bent Crystal Analyzer (SBCA) supplied by Saint-Gobain Cristaux & Detecteurs in France. (Total 40 Si(220) Spherically Bent Analysers)
Von Hamos spectrometer with 16 Von Hamos Analyzers (8 Si(111) 110x30 mm² R=500 mm + 8 Si(220) 110x30 mm² R=500 mm) supplied by Saint-Gobain Cristaux & Detecteurs in France.
上图为安装在 SOLEIL Synchrotron GALAXIE 光束线上的 MATRIXS 分析仪,每条光束线有 40 台 Si(220) 球面弯晶分析仪(左)和 Von Hamos 光谱仪(带 16 台分析仪)= 8 Si(111) + 8 Si(220),均为 110x30 mm² R=500 mm(右)
体在这一市场上赢得了良好的声誉,这要归功于其产品的高质量、晶体的多样性(以硅或锗为基础),以及包括抛光在内的精加工作业的精细度。可以想象,同步加速器的反射镜必须满足苛刻的规格要求。制造工艺非常复杂和精细。硅锭被切成圆形薄片(0.14 到 0.18mm),然后经弯曲变形加工,以适应反射镜的球形玻璃支架。圆盘抛光的最后阶段需要非常高的精细度,由高素质的团队手工完成。

用于同步加速器的质量分析器

目前有 13 个同步加速器项目正在建设或改造中!我们体通过提供高质量的 X 射线分析仪来发挥其作用。 

在 SOLEIL 同步加速器上表现出很高的分辨率

测量由 J.P. Rueff, J.M. Ablett 完成– GALAXIES JJ X-Ray Von Hamos光谱仪(图片由法国 Synchrotron SOLEIL 提供)

带状弯曲 Si(220) 与均匀球面 Si(220) 的“弹性峰值”比较 带状弯曲分析仪 250 meV 对分辨率的贡献
Excellent Resolution as characterized at SOLEIL SynchrotronMeasurements done by J.P. Rueff, J.M. Ablett – GALAXIES JJ X-Ray Von Hamos Spectrometer (images courtesy of Synchrotron SOLEIL, FRANCE)Elastic peak of Strip bent Si(220) (green) compared to Uniform Spherical Si(220) (blue)
Excellent Resolution as characterized at SOLEIL SynchrotronMeasurements done by J.P. Rueff, J.M. Ablett – GALAXIES JJ X-Ray Von Hamos Spectrometer (images courtesy of Synchrotron SOLEIL, FRANCE)Contribution to resolution by stripped bent analyzer 250 meV
带状弯曲 = 绿色 | 均匀球面 = 蓝色  

 

Brochures
145582_Luxium_XRay-Crystals-Spectroscopy_FIN.pdf
PDF | 1.06 MB